Растрові електронні мікроскопи JEOL

Електронна мікроскопія JEOL та інше обладнання

Прилади JEOL для мікроаналізу і аналізу поверхні

Атомно-силові та тунельні мікроскопи JEOL

Растрові електронні мікроскопи JEOL

JEOL JSM-7700F

растровий електронний мікроскоп з автоемісійним катодом

Мікроскоп електронний JEOL JSM-7700F
Електронний мікроскоп растровий з автоемісійним катодом

Новий растровий електронний мікроскоп JSM-7700F єдиний комерційний РЕМ, електронно оптична система якого забезпечує корекцію й хроматичної й сферичної аберації. Крім того, цей прилад має роздільну здатність 0.6 нм при прискорюючій напрузі 5 кВ, що відкриває нові можливості для дослідження речовини на нанорівні. Растровий електронний мікроскоп JSM-7700F спеціально оптимізовано для роботи при низьких прискорюючих напругах, що є особливо актуальним для напівпровідникової промисловості.

Роздільна здатність: 0,6 нм (при 5 кВ), 1,0 нм (при 1 кВ)
Прискорююча напруга: від0,1 до 4,9 кВ (з кроком 10 В), від 5 до 30 кВ з кроком (100 В)
Збільшення: від х25 до х2 000 000

Більш докладна інформація про прилад JSM-7700F у форматі Adobe Acrobat (PDF) (600 Кб)

Тут Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL США.

На початок сторінки

JEOL JSM-7401F

Електронний мікроскоп растровий, з автоемісійним катодом

Ця модель растрового електронного мікроскопу з автоемісійним катодом обладнана абсолютно новими розробками фірми JEOL: системою «Gentle Beam» і R-Фільтром. Система «Gentle Beam» призначена для спостереження тонкої структури поверхні зразка й дозволяє одержання зображень високої роздільної здатності навіть при дуже низьких енергіях електронів (аж до 0.1 кВ). R-Фільтр дає можливість довільно змішувати сигнали зворотньо-розсіяних і вторинних електронів, що дозволяє спостерігати зображення в будь-яких режимах від топографічного до композиційного контрасту.

Роздільна здатність: 1.0 нм (при 15 кВ), 1.5 нм (при 1 кВ)
Прискорююча напруга: від 0.1 до 30 кВ
Збільшення: від х25 до х1000000

Більш докладна інформація про прилад JSM-7401F в форматі Adobe Acrobat (PDF) (900 Кб)

Тут Ви можете подивитися нформацію на сайті JEOL США.

На початок сторінки

JEOL JSM-7000F

Електронний мікроскоп растровий, з автоемісійним катодом

Новітній растровий електронний мікроскоп JEOL JSM-7000F дозволяє одержувати зображення з дуже високою роздільною здатністю. Він оснащений багатоцільовою камерою зразків зі шлюзом для швидкої зміни зразків, автоматичним моторизованим столиком і функціонально наповненим програмним забезпеченням. При цьому він має досконалу геометрію оптичної колони, що забезпечує великий струм зонду (до 200 нА) при його мінімальному діаметрі, що робить цей прилад ідеальним для роботи з аналітичними приставками EDS, WDS, EBSD і CL.

Роздільна здатність: 1,2 нм (при 30 кВ) і 3,0 нм (при 1 кВ)
Прискорююча напруга: від 0,5 до 2,9кВ (з кроком 10 В), від 3 до 30 кВ з кроком (100 В)
Збільшення: від х10 до х500 000

Більш докладна інформація про прилад JSM-7000F у форматі Adobe Acrobat (900 Кб)

Тут Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL США.

На початок сторінки

JEOL JSM-6700F

Електронний мікроскоп растровий з автоемісійним катодом

У растровому електронному мікроскопі JSM-6700F використовується конічна об'єктивна лінза із сильним збудженням, яку розробила компанія JEOL. Це дає можливість досліджувати більші зразки з гарантованою роздільною здатністю 1,0 нм при прискорюючій напрузі 15 кВ і 2,2 нм при 1 кВ. Камера зразків уміщає зразки діаметром до 200 мм. Дана модель оснащена автоматизованим механізмом переміщення по X, Y і R, що робить роботу із приладом більш ефективною.

Роздільна здатність: 1,0 нм
Прискорююча напруга: 0,5 до 30 кВ (53 ступені)
Збільшення: від х25 до х19 000 (в режимі LM), від х100 до х650 000 (в режимі SEM)

Більше докладна інформація про прилад JSM-6700F у форматі Adobe Acrobat (PDF) (1.8 Мб)

Тут Тут Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL США.

На початок сторінки

JEOL JSM-6490/JSM-6490LV

Електронні мікроскопи растрові, з великою камерою зразків

Новітні прилади серії JSM-6490 - надійні й невибагливі растрові електронні мікроскопи з гарантованим роздільною здатністю 3 нм. Модель растрового електронного мікроскопа JSM-6490LV оздоблена системою низького вакууму, що дозволяє спостерігати водонасичені або електронепровідні зразки без напилювання. Евцентричний столик зразків, яким комплектуються ці прилади, дозволяє вивчати об'єкти діаметром до 8 дюймів.

Основними особливостями приладів цієї серії є:

термоемісійна гармата з вольфрамовим або LaB6 катодом
автоматичне налаштування для типових зразків
зручний і компактний дизайн
інтерфейс програмного забезпечення, що налаштовується
супер-конічна об'єктивна лінза за
повністю автоматична вакуумна система

	JSM-6490	JSM-6490LV	JSM-6490A	JSM-6490LA
EDS	опційно		інтегрований
Роздільна здатність (режим високого вакууму)	3,0 нм
Роздільна здатність (режим низького вакууму)	-	4,0 нм	-	4,0 нм
Зображення у вторинних електронах	в компл. поставки
Зображення у зворотно-розсіяних електронах	опційно	штатно	опційно	штатно
Збільшення	от х5 до х300000
Прискорююча напруга	от 0,3 кВ до 30 кВ
Прискорююча напруга	евцентричного типу, X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 5...80 мм, нахил:-10...+90^o, поворот: 360^o, комп'ютерний контроль по 5 осям
Максимальний розмір зразка	діаметром до 200 мм
ЕОМ/ОС	IBM PC/MS Windows XP ^*
Функції	установки користувача, автофокус, автоконтраст/яскравість, автостигматор, автоматичний контроль гармати
Система відкачки	високий вакуум	високий вакуум низький вакуум	високий вакуум	високий вакуум низький вакуум

Офіційний прес-реліз про прилади серії JSM-6490 у форматі Adobe Acrobat (PDF) (100 Кб)

Тут або тут Ви можете подивитися інформацію про прилади на сайті JEOL США. .

На початок сторінки

JEOL JSM-6390/JSM-6390LV

Електронний мікроскоп, растровий

Електронні мікроскопи серії JSM-6390 - це недорогі прилади з роздільною здатністю у високому вакуумі до 3 нм. Інтерфейс програмного забезпечення, що повністю налаштовується робить роботу із приладами інтуїтивно зрозумілою, а програма SmileShot™ гарантує оптимальні робочі установки. Низьковакуумний режим в моделі JSM-6390LV включається одним клацанням миші, дозволяючи вивчати вологі або непровідні зразки без напилювання. Максимальний розмір зразків для цих приладів обмежений 6 дюймами.

Основними особливостями приладів цієї серії є:

термоемісійна гармата з вольфрамовим або LaB6 катодом
автоматична настройка для типових зразків
зручний і компактний дизайн
інтерфейс програмного забезпечення, що налаштовується
поліпшене одержання зображень у вторинних електронах
супер-конічна об'єктивна лінза
повністю автоматична вакуумна система

	JSM-6390	JSM-6390LV	JSM-6390A	JSM-6390LA
EDS	опційно		інтегрований
Роздільна здатність (режим високого вакууму)	3,0 нм
Роздільна здатність (режим низького вакууму)	-	4,0 нм	-	4,0 нм
Зображення у вторинних електронах	в компл. поставки
Зображення у зворотно-розсіяних електронах	опційно	штатно	опційно	штатно
Збільшення	от х5 до х300000
Прискорююча напруга	от 0,5 кВ до 30 кВ
Столик зразків	евцентричного типу, X: 40 мм, Y: 80 мм, Z: 5...48 мм, нахил: -10...+90^o, поворот: 360^o
Максимальний розмір зразка	діаметром до 150 мм
ЕВМ/ОС	IBM PC/MS Windows XP ^*
Функції	установки користувача, автофокус, автоконтраст/яскравість, автостигматор, автоматичний контроль гармати
Система відкачки	високий вакуум	високий вакуум низький вакуум	високий вакуум	високий вакуум низький вакуум

* Windows XP зарегистрированная торговая марка Microsoft Co.

Офіційний прес-реліз про прилади серіїJSM-6390 у форматі Adobe Acrobat (PDF) (100 Кб)

Тут або тут Ви можете подивитися інформацію про прилади на сайті JEOL США.

На початок сторінки

Перейти:

Просвічуючі електронні мікроскопи JEOL
Растрові електронні мікроскопи JEOL
Прилади JEOL для мікроаналізу та аналізу поверхні
Елементні аналізатори JEOL
Атомно-силові та тунельні мікроскопи JEOL
Фотоелектронні спектрометри JEOL
ЯМР-спектрометри JEOL
ЕПР (Електронний Парамагнітний Резонанс)
Обладнання для приготування зразків
Допоміжні пристрої
Сервісне обслуговування та запчастини

вгору