Електронний мікроскоп просвічуючий, 300 кВ
300-кіловольтний аналітичний електронний мікроскоп високої точності й надвисокої роздільної здатності сконструйований таким чином, щоб одночасно можна було спостерігати зображення на атомарному рівні й прицільно аналізувати зразок. У даному мікроскопі використано багато нових розробок, у тому числі компактна електронна гармата на 300 кВ, освітлювальна система з п'ятьма лінзами, С-О лінза, т.зв. мікроактивний гоніометр і різні тримачі зразків. Використання вбудованого іонного насосу забезпечує чистий та стабільно високий вакуум.

• Роздільна здатність по точках: 0,17 нм
• Прискорююча напруга: від 100 до 300 кВ
• Збільшення: від х50 до х1 500 000

Просвічуючий електронний мікроскоп, обладнаний електронною гарматою високої яскравості з підігрівним катодом на польовій емісії, з підвищеною стабільністю струму емісії. Дозволяє безпосередньо спостерігати деталі атомної будови й аналізувати окремі атомні шари. Електронна гармата з підігрівним
катодом на польовій емісії, що найбільше підходить для аналізу нанообластей, забезпечує струм зонду 0,5 нА при його діаметрі 1 нм і 0,1 на при 0,4 нм. 

• Роздільна здатність в точці: 0,17 нм
• Прискорююча напруга: 100, 200, 300 кВ
• Збільшення: від  х60 до х1 500 000

Електронна гармата з польовою емісією, що забезпечує електронний пучок з високою яскравістю й когерентністю, відіграє ключову роль в одержанні високої роздільної здатності та при аналізі наноструктур. Прилад JEM-2100F є комплексним ПЕМ, з розвнутою системою електронного керування різними функціями.

Основні особливості даного приладу:

• Висока яскравість і стабільність електронної гармати з термополевою емісією забезпечує аналіз областей нанорозмірів при великому збільшенні.
• Діаметр зонду менше 0.5 нм дозволяє зменшити точку аналізу до рівня нанометрів. 
• Новий високостабільный столик зразків з боковим завантаженням забезпечує простий нахил, поворот, нагрів і охолодження, установки що програмуються та ін. без механічного дрейфу.  
• Просте керування дозволяє легко інтегрувати керування різними пристроями STEM, HAADF, MDS, EDS, EELS, CCD-Камерамиерами

Дозволяє не тільки одержувати зображення на просвіт і картини дифракції, але й містить у собі комп'ютерну систему контролю, що може об’єднувати TEM , пристрій одержання зображень у режимі сканування (STEM), енергодисперсійний спектрометр (JED-2300 T) і спектрометр енергетичних втрат електронів (EELS) у будь-яких комбінаціях.

Висока роздільна здатнісь (0,19 нм при 200 kV на катоді LaB 6 ) досягається завдяки стабільності високої напруги й струму пучка, разом із чудовою системою лінз.

Нова структура рами колони мікроскопа м'яко зменшує ефект вібрації приладу.

Система елементного аналізу використовує новий детектор ЕДС, що розроблений для тілесного кута 0,28 стеррадіан і має кут виходу 24,1 градуса, що дозволяє одержувати високоточний аналіз і швидкий збір даних.

Новий гоніометричний столик дозволяє позиціонування зразка з точністю до нанометрів (точне переміщення зразка по нанометричній шкалі).

Комп'ютерна система контролю мікроскопа забезпечує підключення по мережі інших користувачів (комп'ютерів) і обмін інформацією між ними.

 Застосування особливих полюсних накінечників дозволяє одержувати на мікроскопі висококонтрастні і якісні зображення як на малих, так і на великих збільшеннях. Переміщення обазца здійснюється за допомогою маніпулятора «трекбол», а інші функції приладу керують за допомогою миші. На кожного користувача в пам'яті заводиться файл, у який заноситься інформація про режими роботи, положення зразка й дані для автоматичного відновлення налаштувань колони. Потім кожний користувач може звернутися до свого персонального файлу для швидкого відновлення налаштувань колони, це дозволяє перетворити прилад на персональний просвітлюючий мікроскоп.

• Роздільна здатність по точках: 0,2 нм  
• Прискорююча напруга: від 40 до 120 кВ
• Збільшення: від х50 до 600 000