Global Partner Tokyo Boeki   поиск     Українська Русский Английский
ГоловнаПро компаніюПродукти та послугиКонтакти
Обладнання для приготування зразків
JEOL SM-09010 CROSS SECTION POLISHER
пристрій для одержання полірованих зрізів

Унікальна технологія пробопідготовки для РЕМ (патент JEOL) - Cross Section Polisher
Прилад для одержання полірованих зрізів

  • одержання поперечних зрізів зразків під кутом 90 градусів до поверхні зразка
  • просте одержання чистих зрізів практично будь-яких матеріалів і їхніх сполучень
  • збереження внутрішньої структури зразків
  • завдяки використанню пучка іонів аргону ушкодження зразка набагато менше, ніж при використанні FIB
  •  простота у використанні, не вимагає досвіду роботи для одержання чудового результату
 

Більш докладна інформація про прилад SM-09010    у форматі Acrobat (Adobe PDF) (1.02 Мб)

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

JEOL JFD-310
прилад для препарування методом заморожування-висушування

Зневоднювання з послідовним заміщенням t-бутиловым спиртом визнано найпростішим способом приготування біологічних зразків методом заморожування - висушування, який не призводить до усадки й деформації. Переваги цього методу повністю використовуються в установці JFD-310 для препарування з високою ефективністю й відтворюваністю. 

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

JEOL EM-AFS
пристрій для заміщення із заморожуванням

Зразки, заморожені й зафіксовані за допомогою приладів для кріофіксації, таких, як EM-PACT і EM-CPC, проходять обробку в замороженому стані в рідині (наприклад, ацетон або метиловий спирт). Потім ці зразки піддаються низькотемпературному просоченню з подальшим потвердженням ультрафіолетовим випромінюванням або при кімнатній температурі.
Температурний діапазон: від 140 °С до +65 °С
Час встановлення таймера: від 0 до 999.9 годин.

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

JEOL HDT-400
пристрій для гідрофільної обробки

 Використовується переважно для підготовки ПЕМ/РЕМ зразків.
Слугує, головним чином, для надання гидрофільності (підвищеної адгезії) різним поверхням, включаючи поверхні підтримуючих плівок для ПЕМ зразків, лез алмазних ножів і підтримуючих штифтів РЕМ зразків.

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

GATAN Model 691 (PIPS)
прилад для прецизійного іонного травлення

Прилад для препарування зразків, що використовується в просвічуючій електронній мікроскопії (ПЕМ). Дозволяє утоньшувати плівки для ПЕМ шляхом травлення їхньої поверхні пучком іонів аргону. Невеликий розмір, мала вага й настільний дизайн дозволяють розміщати даний пристрій у будь-якому місці.

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

GATAN Model 656
прилад для шліфування ямок (дімплер)

Механічний шліфувальний прилад для попередньої обробки зразків у просвічуючій електронній мікроскопії. Відшліфовує акуратні напівсферичні ямки в центрі дискових заготовок. Оскільки мінімальна товщина після шліфування становить від 5 до 10 мікронів, а краї при цьому залишаються товстими, істотно зменшується час заключної обробки зразків за допомогою хімічного або іонного травлення.


На початок сторінки

GATAN Model 682 (PECS)
установка для прецизійного травлення/напилення

Дозволяє проводити травлення й напилювання в одній вакуумній камері. Наступні особливості істотно поліпшують характеристики установки:

  • зменшення або відсутність забруднення зразка;
  • зменшення часу обробки зразка.  


Панель керування також поліпшена, вона стала більш компактною і легкою в роботі. Ця сучасна система особливо ефективна для обробки зразків напівпровідників.

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

JEOL JFS-1600
автоматизована наплювальна установка

Установка складається з основного блоку й форвакуумного насосу, і застосовується, в основному, для підготовки зразків для РЕМ.

Біологічні й інші непровідні зразки можуть бути напилені різними металами швидко й ефективно

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки

СЕРІЯ JEOL JEE-420
вакуумні наплювальні установки

Установки серії JEE-420 оптимізовані для швидкого приготування зразків для РЕМ.

Вони ідеально підходять для нанесення вуглецевих плівок і плівок різних металів осадженням з парової фази на непровідні зразки, щоб зробити їх електропровідними, а також для затінення й спостереження зображень із високою роздільною здатністю.   Тут Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

 

Тут   Ви можете подивитися інформацію про прилад на сайті JEOL Японія.

На початок сторінки


Перейти:
  • Просвічуючі електронні мікроскопи JEOL
  • Растрові електронні мікроскопи JEOL
  • Прилади JEOL для мікроаналізу та аналізу поверхні 
  • Елементні аналізатори JEOL
  • Атомно-силові та тунельні мікроскопи JEOL
  • Фотоелектронні спектрометри JEOL
  • ЯМР-спектрометри JEOL
  • ЕПР (Електронний Парамагнітний Резонанс)
  • Обладнання для приготування зразків
  • Допоміжні пристрої
  • Сервісне обслуговування та запчастини
 вгору