Дана серія мікроскопів була створена для використання в режимі скануючого тунельного мікроскопа (STM), або атомного силового мікроскопа (AFM). Зміна режимів відбувається простою зміною «голівки» основного мікроскопа. Це робиться настільки просто, що заміну блоку може провести будь-який оператор за максимально короткий час.
Основний блок може бути з вакуумним відкачуванням (постачається додатково), це дає можливість застосовувати різні додаткові пристрої для спостереження, зразків, наприклад, при нагріванні або охолодженні зразка, введенні газу й т.п.   

В цьому мікроскопі досягається, за умови надвисокого вакууму (10-8Па), роздільна здатність 0,14 нм по горизонталі й по вертикалі, що необхідно для спостереження чистих поверхонь зразка. Традиційне спостереження топографічних картин поверхні зразка може бути доповнено різноманітним периферичним обладнанням для різних цілей, таких як:

1.  спостереження процесів вбирання, фазових переходів при високих або низьких температурах, і зміни стану тонких плівок;
2. скануюча тунельна мікроскопія;
3. атомна силова мікроскопія