Компактні високочутливі фотоелектронні спектрометри з високою роздільною здатністю розроблені фірмою Jeol, яка має величезний досвід у фундаментальній і прикладній технології виробництва електростатичних лінз, аналізаторів і т.д.
Іонні пушки з низькою прискорюючою напругою й великим струмом, призначені для XPS, дозволяють аналізувати як атомні шари поверхні різної товщини, так і шари зразка розміром порядку мікрона. Камера спостереження зразка й камера, де зразок травиться, відокремлені один від одного вакуумним затвором. Це повністю запобігає забрудненню в результаті розпилення й полегшує одержання надвисокого вакууму.
Дана серія спектрометрів зручна в керуванні, обладнанна програмним забезпечення для MS Windows ME/2000/XP, що спрощує виміри та одержання даних, і дозволяє одержувати більш точну інформацію про хімічний зв'язок.

Версія моделі JPS-9010TR дозволяє проводити надточний аналіз самих верхніх шарів поверхні зразка (глибина проникнення випромінювання багато менше 1мкм), за рахунок зменшення кута падіння рентгенівських променів.