Компактні високочутливі фотоелектронні спектрометри з високою роздільною здатністю розроблені фірмою Jeol, яка має величезний досвід у фундаментальній і прикладній технології виробництва електростатичних лінз, аналізаторів і т.д.
Іонні пушки з низькою прискорюючою напругою й великим струмом, призначені для XPS, дозволяють аналізувати як атомні шари поверхні різної товщини, так і шари зразка розміром порядку мікрона. Камера спостереження зразка й камера, де відбувається травлення зразку, відокремлені один від одного вакуумним затвором. Це повністю запобігає забрудненню в результаті розпилення й полегшує одержання надвисокого вакууму.
Дана серія спектрометрів зручна в керуванні, обладнана програмним забезпечення для MS Windows ME/2000/XP, що спрощує виміри та одержання даних, і дозволяє одержувати більш точну інформацію про хімічний зв'язок.

Версія моделі JPS-9010TR дозволяє проводити надточний аналіз самих верхніх шарів поверхні зразка (глибина проникнення випромінювання багато менше 1мкм), за рахунок зменшення кута падіння рентгенівських променів. 

 Тут  Ви можете переглянути інформацію  про прилад на сайті JEOL.