Global Partner Tokyo Boeki - микроскопы (электронный, тунельный, оптический), спектрометры (фотоэлектронный, ЯМР, ЭПР), сварочный аппарат, электронная микроскопия   поиск     Украинский Русский Английский
ГлавнаяО компанииПродукты и услугиКонтакты

Комплексные системы микроанализа OXFORD INSTRUMENTS

OXFORD INCA Energy

системы для энергодисперсионного микроанализа


системы для энергодисперсионного микроанализа-OXFORD INCA Energy

Oxford INCAEnergy - система энергодисперсионного микроанализа для электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа. Энергодисперсионный спектрометр монтируется в качестве аналитической приставки к РЭМ или ЭЗМА и позволяет проводить качественный и количественный анализ в выбранных точках, а также получать карты распределений элементов по площади и профилю вдоль линии. Спектрометры с термоциклированным детектором высокого энергетического разрешения (138 эВ и 133 эВ) INCA Energy поставляются в трех стандартных конфигурациях: INCA Energy 250, INCA Energy 350 и INCA Energy 450. Все конфигурации позволяют проводить анализы с высочайшей точностью и производительностью.

 

OXFORD INCA Energy 250 позволяет:
  • выполнять качественный и количественный (по списку элементов, составляемому оператором) рентгеновский микроанализ с выбором точки анализа на экране микроскопа
  • редактировать названия пиков
  • получать и распечатывать цифровые изображения
  • сегментировать полутоновые изображения с выдачей информации о площади
  • импортировать данные ISIS в проекты INCA
  • получать карты распределений элементов по площади и профили вдоль линии
  • составлять отчеты с использованием набора шаблонов, конструировать собственные шаблоны с помощью редактора шаблонов
  • одновременно с наблюдением в окне программы для просмотра INCA viewer производить различные операции со спектрами, изображениями и картами
  • экспортировать отчеты как документы в форматах MS Word или HTML.

OXFORD INCA Energy 350 позволяет:

  • выполнять качественный и количественный (по списку элементов, составляемому оператором) рентгеновский микроанализ с выбором точки анализа на экране микроскопа и на экране ЭДС
  • редактировать названия пиков
  • получать и распечатывать цифровые изображения, включая изображения, полученные с помощью программы Cameo+
  • сегментировать полутоновые изображения с выдачей информации о площади
  • получать и сохранять спектры с отдельных точек или участков образца
  • собирать спектры вдоль линии и/или по сетке на выбранном участке
  • импортировать данные ISIS в проекты INCA
  • выбирать рентгеновские линии для количественного анализа и картирования
  • получать карты распределения элементов и профили распределения вдоль линии
  • составлять отчеты с использованием набора шаблонов, конструировать собственные шаблоны с помощью редактора шаблонов
  • одновременно с наблюдением в окне программы для просмотра INCA viewer производить различные операции со спектрами, изображениями и картами
  • экспортировать отчеты как документы в форматах MS Word или HTML.

OXFORD INCA Energy 450 позволяет:

  • синтезировать спектры составных или чистых стандартных образцов
  • сравнивать текущий спектр с сохраненными
  • получать карты распределения фаз из элементных карт и данных программы Cameo+, выполнять качественный и количественный рентгеновский микроанализ с выбором точки анализа на экране микроскопа и на экране ЭДС
  • редактировать названия пиков
  • получать и распечатывать цифровые изображения, включая изображения, полученные с помощью программы Cameo+
  • сегментировать полутоновые изображения с выдачей информации о площади
  • получать и сохранять спектры с отдельных точек или участков образца
  • собирать спектры вдоль линии и/или по сетке на выбранном участке
  • импортировать данные ISIS в проекты INCA
  • выбирать рентгеновские линии для количественного анализа и картирования
  • получать карты распределения элементов и профили распределения вдоль линии
  • составлять отчеты с использованием набора шаблонов, конструировать собственные шаблоны с помощью редактора шаблонов
  • одновременно с наблюдением в окне программы для просмотра INCA viewer производить различные операции со спектрами, изображениями и картами
  • экспортировать отчеты как документы в форматах MS Word или HTML.
 
Более подробная информация о приборах серии INCA в формате Adobe Acrobat (PDF) (3.5 Мб).
Описание принципов работы ЭДС (455 Кб) и описание INCA Energy (4.77 Мб).

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте OXFORD INSTRUMENTS.

В начало страницы

OXFORD INCA Wave

волновая система микроанализа


волновая система микроанализа-OXFORD INCA Wave

OXFORD INCA Wave — система микроанализа для растровой электронной микроскопии и микрорентгеноспектрального анализа, в которой используются детекторы с дисперсией по длинам волн. Волновой спектрометр монтируется в качестве аналитической приставки к РЭМ или ЭЗМА и позволяет проводить качественный и количественный анализ в выбранных точках (в том числе, и в автоматическом режиме по заданным заранее точкам), а также получать карты распределений элементов по площади и профили вдоль линии. Программа Energy+ (поставляется по доп. заказу) позволяет работать волновому и энергодисперсионному спектромектрам как единой системе, что расширяет возможности каждого из спектрометров и увеличивает производительность и точность анализов.
OXFORD INCA Wave поставляется в двух конфигурациях:

INCA Wave 500:
Полностью фокусирующий спектрометр с кругом Роуланда 210 мм и угловым диапазоном 2 от 33° до 135° 4 кристалла-анализатора (в 6 позициях) размещены на поворотной турели, управляемой компьютером, причем смена кристалла-анализатора может быть произведена в любом положении спектрометра. Для анализа всех элементов от бора до урана. Параметры кристаллов-анализаторов:

кристалл 2d, нм  диапазон энергий, кэВ тип
LiF 0.40267 10.84 — 3.33  Йоганссон
PET 0.8742 4.99 — 1.54 Йоганссон
TAP 2.575 1.70 — 0.52  Йоганссон
LSM80N 7.8 0.56 — 0.17 Йоганн


На турель могут быть установлены дополнительные кристаллы (по специальному заказу)

INCA Wave 700:
Полностью фокусирующий спектрометр с кругом Роуланда 210 мм и угловым диапазоном 2 от 33° до 135°. 5 кристалл-анализаторов (в 6 позициях) размещены на поворотной турели, управляемой компьютером, причем смена кристалла-анализатора может быть произведена в любом положении спектрометра. Для анализа всех элементов от бериллия до урана Параметры кристаллов-анализаторов:

кристалл 2d, нм  диапазон энергий, кэВ тип
LiF 0.40267 10.84 — 3.33  Йоганссон
PET 0.8742 4.99 — 1.54 Йоганссон
TAP 2.575 1.70 — 0.52  Йоганссон
LSM60 6.0 0.73 — 0.22 Йоганн
LSM200 19.7 0.22 — 0.07 Йоганн


На турель могут быть установлены дополнительные кристаллы (по специальному заказу)

Оба спектрометра имеют следующие характеристики:

  • воспроизводимость положения спектрометра ?0.000014 нм с кристаллом-анализатором LiF(200); линейность по длинам волн ?0.0002 нм с кристалл-анализатором LiF(200) при температуре в помещении 22° ? 3°C 
  • смена кристалл-анализаторов с помощью мотора, установленного непосредственно на поворотную турель
  • проточный пропорциональный и газонаполненный пропорциональный счетчики смонтированы друг за другом
  • перед рентгеновскими счетчиками установлен мотор для управления шириной входной щели
  • для оптимального детектирования рентгеновских лучей каждой спектральной линии установлен специальный мотор перемещения щели и детектора
  • в комплект входит интерфейс сопряжения с камерой образцов растрового электронного микроскопа, включая оснащение клапанами, где это необходимо
 
Более подробная информация о приборах серии INCA в формате Adobe Acrobat (PDF) (3.5 Мб).
Описание принципов работы ВДС (317 Кб) и описание INCA Wave (915 Кб).

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте OXFORD INSTRUMENTS.

В начало страницы

OXFORD INCA Crystal

система анализа дифракционных картин


система анализа дифракционных картин-OXFORD INCA Crystal

OXFORD INCA Crystal — система для анализа картин дифракции обратно-рассеянных электронов (ДОРЭ). INCA Crystal монтируется в качестве аналитической приставки к РЭМ и позволяет получать качественную и количественную информацию о кристаллографической ориентации микрокристаллов, текстуре, и границах зерен с высоким пространственным разрешением. INCACrystal поставляется в двух стандартных конфигурациях:

OXFORD INCA Crystal 200  позволяет пользователю:

  • управлять работой ПЗС-камеры (с разрешением 1300 × 1024 пикселей, 12 бит), охлаждаемой системой, работающей на эффекте Пелтье
  • скорость построения карт >35,000 пикселей в час при оптимальных условиях с низкими требованиями к электронному пучку
  • выбирать до 6 фаз при их разделении
  • получать изображения анализируемых участков образца во вторичных / обратно- и вперед-рассеянных электронах
  • собирать информацию об ориентации и разориентации из точек, выбранных на электронном изображении
  • получать карты распределения ориентаций и фаз любой формы
  • выводить на экран результаты в виде карт распределения ориентаций
  • выводить результаты в виде карт разориентаций
  • выводить результаты в виде полюсных фигур, обратных полюсных фигур и диаграмм Эйлера
  • отфильтровывать карты ориентаций по отсутствующим или изолированным пикселам
  • отфильтровывать карты ориентаций по критериям плохая дифракционная картина и остаточный угол
  • экспортировать данные по ориентациям
  • создавать отчеты с помощью набора шаблонов
  • экспортировать отчеты в виде документов MS Word

OXFORD INCA Crystal 300  позволяет пользователю:

  • наблюдать карты разориентаций с гистограммами в диалоговом режиме
  • в диалоговом режиме наблюдать карты CSL с гистограммами
  • в диалоговом режиме анализировать распределение зерен по размеру
  • анализировать текстуру в диалоговом режиме
  • получать результаты для участка, выбранного вручную
  • получать данные по размеру зерен, качеству дифрактограмм, остаточному углу и параметрам текстуры для выбранного участка
  • накладывать информацию об ориентации, разориентации и размере зерен

Камера

  • ПЗС камера 1300 × 1024 пикселей, 12 бит, охлаждаемая Пелтье-холодильником
  • компьютерное управление усилением и яркостью; дискретизацией дифрактограммы; временем накопления кадра (диапазон от 1 мсек до нескольких секунд с дискретностью от миллисекунд до секунд)
  • фосфоресцирующий экран, выдвижной фосфоресцирующий экран диаметром 41 мм 
  • детектор фронтально отраженных электронов типа Vanguard
  • узел детектора фронтально отраженных электронов монтируется внизу фосфоресцирующего экрана для детектирования электронов, отраженных вперед по отношению к поверхности образца

Микроаналитический процессор:

  • система связи по высокоскоростной шине PCI translink с конвейерной организацией для быстрого обмена данными с системным компьютером
  • встроенные средства диагностики, включая мониторинг источника питания и внутренней температуры
  • линейный источник питания
  • работает совместно с ЭД спектрометром в комбинированных ЭДС/ДОРЭ системах
  • современная цифровая система сканирования Superscan
  • использует цифровой сигнальный процессор (ЦСП) для оптимизации скоростных характеристик при сканировании и получении аналогового изображения
  • подавление шумов по Кальману при наборе изображения
  • 12 битные ЦАПы для позиционирования электронного пучка, видеопамять 2 мбайта
 
Более подробная информация о приборах серии INCA в формате Adobe Acrobat (PDF) (3.5 Мб).
Описание системы INCA Crystal (3.5 Мб).

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте OXFORD INSTRUMENTS.

В начало страницы
 вверх