Микроскопы NIKON промышленного назначения

Инвертированные микроскопы в сравнении с прямыми (образец под объективом) имеют следующие преимущества:

• чтобы поменять образец, не нужно двигать предпетный столик;
• на таких приборах можно изучать образцы любых размеров

Микроскоп TME300U — надежный и стабильный как скала инвертированный прибор, отвечающий самым взыскательным требованиям исследователя. Прибор использует прекрасную бесконечную оптику Nikon CF, предоставляя непревзойденный комфорт в работе. Эта модель реализует полный спектр методов микрофотографирования, обеспеченный первоклассаными оптическими характеристиками.

«Младший брат» TME200 — более компактный прибор, сравнимый по основным характеристикам с прибором Epiphot TME300U. Эта модель лучше всего подходит для наблюдения и вывода изображения на ТВ-монитор. Хотя, микрофотографирование — также одна из многочисленных возможностей этого прибора.

Основные характеристики обеих моделей приведены в таблице:

Модель	TME300U	TME200
Фокусировка	Диапазон: 4 мм Грубая: 4 мм/оборот Точная: 0.1 мм/оборот Минимальный отсчет: 1 мкм
Распределение света	Окуляры:боковой порт = 100:0/20:80
	Окуляры: фото = 100:0/20:80 35 мм:фотопластина = 100:0/0:100	-
Промежуточное увеличение	трансфокация 0.8-2x (фиксация в положениях 1.0x, 1.25x. 1.5x)	-
Визирная шкала	масштабная линейка для объективов 5/10/20/50/100х гранулометрические сетки (аустенит; No. 1-8; Сетка: 0.5м)
Объективная револьверная насадка	На пять объективов; светло/темнопольная; универсальная
Окулярная трубка	фиксированная бинокулярная	бинокулярная или тринокулярная
Столик	прямоугольный, диапазон перемещений 70×70 мм
Фотомикрография	встроенная, с электронным управлением: 35 мм/фотопластины	серия FX-III через тринокуляр
Окуляры	CFWN 10x (20 мм)
	CFWN 10xEPM (20 ии) — с фотомаской
Объективы	CF IC EPI Plan, CF IC EPI E Plan, CF IC BD E Plan, CF IC BD Plan, CF IC BD Plan DIC увеличения от 1.5x до 200x
Контраст	светлое/темное поле, поляризационный, дифференциальный интерференционный Номарского, эпи-флюоресценция
Габариты и масса	361 × 763 х 450 мм 39 кг	361 × 736 х 436 мм 31 кг

Микроскоп Nikon Eclipse LV100 D – исследовательский микроскоп промышленного назначения.
Его основные преимущества:

• универсальность;
• улучшенные оптические характеристики;
• компактный модульный дизайн;
• возможность изучения «толстых» образцов, толщиной до 82 мм;
• широкий выбор прецизионных предметных столиков различных размеров;
• новый 50Вт галогеновый осветитель, который на 40% ярче осветителя с мощностью галогеновой лампы 100Вт;
• три типа револьверных объективных насадок;
• пять типов конденсоров.

Оптическая схема приборов предусматривает оптимальную интеграцию различных камер, производства Nikon.

Специально для приборов LV100 на основе стекла «eco-glass» Nikon разработал новейшие модели светосильных объективов серии CFI60:

Модель	Увеличение	Числовая апертура	Рабочий отрезок, мм
CFI Plan Epi	2.5x	0.075	8.8
CFI LU Plan Fluor Epi	5x	0.15	23.5
	10x	0.30	17.5
	20x	0.45	4.5
	50x	0.80	1.0
	100x	0.90	1.0
CFI LU Plan Epi ELWD	20x	0.40	13.0
	50x	0.55	10.1
	100x	0.80	3.5
CFI L Plan Epi SLWD	20x	0.35	24.0
	50x	0.45	17.0
	100x	0.70	6.5
CFI LU Plan Apo EPI	100x	0.95	0.4
	150x	0.95	0. 3
CFI L Plan Apo EPI WI	150x	1.25	0.25
CFI LU Plan Fluor BD	5x	0.15	18. 0
	10x	0.30	15.0
	20x	0.45	4.5
	50x	0.80	1.0
	100x	0.90	1.0
CFI LU Plan Fluor BD ELWD	20x	0.40	13.0
	50x	0.55	9.8
	100x	0.80	3.5
CFI LU Plan Apo BD	100x	0.90	0.51
	150x	0.90	0.4

Также разработана новая серия объективов с коррекцией покровного стекла, что также позволяет их использовать в полупроводниковой промышленности для контроля жидкокристаллических панелей:

Модель	Увеличение	Числовая апертура	Рабочий отрезок, мм	Толщина корректируемого стекла, мм
CFI L Plan EPI CR	20x	0.45	10.9-10.0	0-1.2 мм
CFI L Plan EPI CR	50x	0 .7	3.9-3.0	0-1.2 мм
CFI L Plan EPI CRA	100x	0.85	1.2-0.85	0-0.7 мм
CFI L Plan EPI CRB	100x	0.85	1.3-0.95	0.6-1.3 мм

Режимы работы прибора LV100D:

• светлое поле
• темное поле
• дифференциальный интерференционный контраст Номарского
• поляризационный контраст
• эпи-флюоресценция
• режим проходящего света
• интерферометрическое измерение высоты микрообъектов

Компьютерное моделирование позволило разработать станину микроскопов с увеличенной жесткостью и увеличенной термо- и вибростабильностью. По-сравнению с предыдущими моделями уровень подвижности станины уменьшился более чем в 2 раза.