Global Partner Tokyo Boeki - микроскопы (электронный, тунельный, оптический), спектрометры (фотоэлектронный, ЯМР, ЭПР), сварочный аппарат, электронная микроскопия   поиск     Украинский Русский Английский
ГлавнаяО компанииПродукты и услугиКонтакты

Растровые электронные микроскопы JEOL

Перечень предлагаемого оборудования

Микроскоп электронный JEOL JSM-7700F

Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом


Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом-Микроскоп электронный JEOL JSM-7700F

Новый растровый электронный микроскоп JSM-7700F - единственный коммерческий РЭМ, электронная оптическая система которого обеспечивает коррекцию и хроматической и сферической абберации. Кроме того, этот прибор имеет разрешение 0.6 нм на ускоряющем напряжении 5 кВ, что открывает новые возможности для исследования вещества на наноуровне. Растровый электронный микроскоп JSM-7700F специально оптимизирован для работы на низких ускоряющих напряжениях, что особенно актуально для полупроводниковой промышленности.

  • Разрешение: 0,6 нм (при 5 кВ), 1,0 нм (при 1 кВ)
  • Ускоряющее напряжение: от 0,1 до 4,9 кВ (с шагом 10 В), от 5 до 30 кВ с шагом (100 В)
  • Увеличение: от х25 до х2 000 000
 
Более подробная информация о приборе JSM-7700F в формате Adobe Acrobat (PDF) (600 Кб)

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL США.

В начало страницы

Микроскоп электронный JEOL JSM-7401F

Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом


Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом-Микроскоп электронный JEOL JSM-7401F

Эта модель растрового электронного микроскопа с автоэмиссионным катодом оснащена абсолютно новыми разработками фирмы JEOL: системой «Gentle Beam» и R-фильтром. Система «Gentle Beam» предназначена для наблюдения тонкой структуры поверхности образца и предполагает получение изображений высокого разрешения даже при очень низких энергиях электронов (вплоть до 0.1 кВ). R-фильтр дает возможность произвольно смешивать сигналы обратно-рассеянных и вторичных электронов, что позволяет наблюдать изображения в любых режимах от топографического до композиционного контраста.

  • Разрешение: 1.0 нм (при 15 кВ), 1.5 нм (при 1 кВ)
  • Ускоряющее напряжение: от 0.1 до 30 кВ
  • Увеличение: от х25 до х1000000
 
Более подробная информация о приборе JSM-7401F в формате Adobe Acrobat (PDF) (900 Кб)

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL США.

В начало страницы

Микроскоп электронный JEOL JSM-7000F

Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом


Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом-Микроскоп электронный JEOL JSM-7000F

Новейший растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7000F позволяет получать изображения с очень высоким разрешением. Он оснащен многоцелевой камерой образцов со шлюзом для быстрой смены образцов, автоматическим моторизованным столиком и функионально наполненным программным обеспечением. При этом он имеет совершенную геометрию оптической колонны, обеспечивающую большой ток зонда (до 200 нА) при его минимальном диаметре, что делает этот прибор идеальным для работы с приставками EDS, WDS, EBSD и CL.

  • Разрешение: 1,2 нм (при 30 кВ) и 3,0 нм (при 1 кВ)
  • Ускоряющее напряжение: от 0,5 до 2,9 кВ (с шагом 10 В), от 3 до 30 кВ с шагом (100 В)
  • Увеличение: от х10 до х500 000
 
Более подробная информация о приборе JSM-7000F в формате Adobe Acrobat (PDF) (900 Кб)

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL США.

В начало страницы

Микроскоп электронный JEOL JSM-6700F

Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом


Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом-Микроскоп электронный JEOL JSM-6700F

В растровом электронном микроскопе JSM-6700F используется разработанная JEOL коническая объективная линза с сильным возбуждением. Это дает возможность исследовать большие образцы с гарантированным разрешением 1,0 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ и 2,2 нм при 1 кВ. Камера образцов вмещает образцы диаметром до 200 мм. Данная модель оснащена автоматизированным механизмом перемещения по X, Y и R, что делает работу с прибором более эффективной.

  • Разрешение: 1,0 нм
  • Ускоряющее напряжение: 0,5 до 30 кВ (53 ступени)
  • Увеличение: от х25 до х19 000 (в режиме LM), от х100 до х650 000 (в режиме SEM)
 
Более подробная информация о приборе JSM-6700F в формате Adobe Acrobat (PDF) (1.8 Мб)

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL США.

В начало страницы

Серия микроскопов JEOL JSM-6490/JSM-6490LV

Электронные микроскопы растровые с большой камерой образцов


Электронные микроскопы растровые с большой камерой образцов-Серия микроскопов JEOL JSM-6490/JSM-6490LV

Новейшие приборы серии JSM-6490 - надежные и неприхотливые растровые электронные микроскопы с гарантированным разрешением 3 нм. Модель растрового электронного микроскопа JSM-6490LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, которым комплектуются эти приборы, позволяет изучать объекты диаметром до 8 дюймов.

Основными особенностями приборов этой серии являются:

  • термоэмиссионная пушка с вольфрамовым или LaB6 катодом
  • автоматическая настройка для типовых образцов
  • продуманный и компактный дизайн
  • полностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения
  • супер-коническая объективная линза
  • полностью автоматическая вакуумная система
 
JSM-6490
JSM-6490LV
JSM-6490A
JSM-6490LA
EDS опционально интегрирован
Разрешение (режим высокого вакуума) 3,0 нм
Разрешение (режим низкого вакуума) - 4,0 нм - 4,0 нм
Изображение во вторичных электронах в компл. поставки
Изображение в отраженных электронах опционально штатно опционально штатно
Увеличение от х5 до х300000
Ускоряющее напряжение от 0,3 кВ до 30 кВ
Столик образцов эвцентрического типа, X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 5...80 мм,
наклон: -10...+90o, поворот: 360o,
компьютерный контроль по 5 осям
Максимальный размер образца диаметром до 200 мм
ЭВМ/ОС IBM PC/MS Windows XP *
Функции установки пользователя, автофокус, автоконтраст/яркость, автостигматор, автоматический контроль пушки
Система откачки высокий вакуум высокий вакуум
низкий вакуум
высокий вакуум высокий вакуум
низкий вакуум
 
Официальный пресс-релиз о приборах серии JSM-6490 в формате Adobe Acrobat (PDF) (100 Кб)

Здесь или здесь Вы можете посмотреть информацию о приборах на сайте JEOL США.

В начало страницы

Серия электронных микроскопов JEOL JSM-6390/JSM-6390LV

Электронный микроскоп растровый (недорогой)


Электронный микроскоп растровый (недорогой)-Серия электронных микроскопов JEOL JSM-6390/JSM-6390LV

Электронные микроскопы серии JSM-6390 - это недорогие приборы с разрешением в высоком вакууме до 3 нм. Польностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения делает работу с приборами интуитивно понятной, а программа SmileShot™ гарантирует оптимальные рабочие установки. Низковакуумный режим в модели JSM-6390LV включается одним щелчком мыши, позволяя изучать влажные или непроводящие образцы без напыления. Максимальный размер образцов для этих приборов ограничен 6 дюймами.

Основными особенностями приборов этой серии являются:

  • термоэмиссионная пушка с вольфрамовым или LaB6 катодом
  • автоматическая настройка для типовых образцов
  • подуманный и компактный дизайн
  • полностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения
  • улучшенное получение изображений во вторичных электронах
  • супер-коническая объективная линза
  • полностью автоматическая вакуумная система
  JSM-6390 JSM-6390LV JSM-6390A JSM-6390LA
EDS опционально интегрирован
Разрешение (режим высокого вакуума) 3,0 нм
Разрешение (режим низкого вакуума) - 4,0 нм - 4,0 нм
Изображение во вторичных электронах в компл. поставки
Изображение в отраженных электронах опционально штатно опционально штатно
Увеличение от х5 до х300000
Ускоряющее напряжение от 0,5 кВ до 30 кВ
Столик образцов эвцентрического типа, X: 40 мм, Y: 80 мм, Z: 5...48 мм,
наклон: -10...+90o, поворот: 360o
Максимальный размер образца диаметром до 150 мм
ЭВМ/ОС IBM PC/MS Windows XP *
Функции установки пользователя, автофокус, автоконтраст/яркость, автостигматор, автоматический контроль пушки
Система откачки высокий вакуум высокий вакуум
низкий вакуум
высокий вакуум высокий вакуум
низкий вакуум
* Windows XP зарегистрированная торговая марка Microsoft Co.
 
Официальный пресс-релиз о приборах серии JSM-6390 в формате Adobe Acrobat (PDF) (100 Кб)

Здесь или здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL США.

В начало страницы

Перейти:
 вверх