|
|
Растровые электронные микроскопы JEOL
Перечень предлагаемого оборудования
 |
Микроскоп электронный JEOL JSM-7700F |
Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом
Новый растровый электронный микроскоп JSM-7700F - единственный коммерческий РЭМ, электронная оптическая система которого обеспечивает коррекцию и хроматической и сферической абберации. Кроме того, этот прибор имеет разрешение 0.6 нм на ускоряющем напряжении 5 кВ, что открывает новые возможности для исследования вещества на наноуровне. Растровый электронный микроскоп JSM-7700F специально оптимизирован для работы на низких ускоряющих напряжениях, что особенно актуально для полупроводниковой промышленности.
- Разрешение: 0,6 нм (при 5 кВ), 1,0 нм (при 1 кВ)
- Ускоряющее напряжение: от 0,1 до 4,9 кВ (с шагом 10 В), от 5 до 30 кВ с шагом (100 В)
- Увеличение: от х25 до х2 000 000
 |
Микроскоп электронный JEOL JSM-7401F |
Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом
Эта модель растрового электронного микроскопа с автоэмиссионным катодом оснащена абсолютно новыми разработками фирмы JEOL: системой «Gentle Beam» и R-фильтром. Система «Gentle Beam» предназначена для наблюдения тонкой структуры поверхности образца и предполагает получение изображений высокого разрешения даже при очень низких энергиях электронов (вплоть до 0.1 кВ). R-фильтр дает возможность произвольно смешивать сигналы обратно-рассеянных и вторичных электронов, что позволяет наблюдать изображения в любых режимах от топографического до композиционного контраста.
- Разрешение: 1.0 нм (при 15 кВ), 1.5 нм (при 1 кВ)
- Ускоряющее напряжение: от 0.1 до 30 кВ
- Увеличение: от х25 до х1000000
 |
Микроскоп электронный JEOL JSM-7000F |
Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом
Новейший растровый электронный микроскоп JEOL JSM-7000F позволяет получать изображения с очень высоким разрешением. Он оснащен многоцелевой камерой образцов со шлюзом для быстрой смены образцов, автоматическим моторизованным столиком и функионально наполненным программным обеспечением. При этом он имеет совершенную геометрию оптической колонны, обеспечивающую большой ток зонда (до 200 нА) при его минимальном диаметре, что делает этот прибор идеальным для работы с приставками EDS, WDS, EBSD и CL.
- Разрешение: 1,2 нм (при 30 кВ) и 3,0 нм (при 1 кВ)
- Ускоряющее напряжение: от 0,5 до 2,9 кВ (с шагом 10 В), от 3 до 30 кВ с шагом (100 В)
- Увеличение: от х10 до х500 000
 |
Микроскоп электронный JEOL JSM-6700F |
Электронный микроскоп растровый с автоэмиссионным катодом
В растровом электронном микроскопе JSM-6700F используется разработанная JEOL коническая объективная линза с сильным возбуждением. Это дает возможность исследовать большие образцы с гарантированным разрешением 1,0 нм при ускоряющем напряжении 15 кВ и 2,2 нм при 1 кВ. Камера образцов вмещает образцы диаметром до 200 мм. Данная модель оснащена автоматизированным механизмом перемещения по X, Y и R, что делает работу с прибором более эффективной.
- Разрешение: 1,0 нм
- Ускоряющее напряжение: 0,5 до 30 кВ (53 ступени)
- Увеличение: от х25 до х19 000 (в режиме LM), от х100 до х650 000 (в режиме SEM)
 |
Серия микроскопов JEOL JSM-6490/JSM-6490LV |
Электронные микроскопы растровые с большой камерой образцов
Новейшие приборы серии JSM-6490 - надежные и неприхотливые растровые электронные микроскопы с гарантированным разрешением 3 нм. Модель растрового электронного микроскопа JSM-6490LV оснащена системой низкого вакуума, позволяющей наблюдать водонасыщенные или непроводящие образцы без напыления. Эвцентрический столик образцов, которым комплектуются эти приборы, позволяет изучать объекты диаметром до 8 дюймов.
Основными особенностями приборов этой серии являются:
- термоэмиссионная пушка с вольфрамовым или LaB6 катодом
- автоматическая настройка для типовых образцов
- продуманный и компактный дизайн
- полностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения
- супер-коническая объективная линза
- полностью автоматическая вакуумная система
| |
JSM-6490
|
JSM-6490LV
|
JSM-6490A
|
JSM-6490LA
|
| EDS |
опционально |
интегрирован |
| Разрешение (режим высокого вакуума) |
3,0 нм |
| Разрешение (режим низкого вакуума) |
- |
4,0 нм |
- |
4,0 нм |
| Изображение во вторичных электронах |
в компл. поставки |
| Изображение в отраженных электронах |
опционально |
штатно |
опционально |
штатно |
| Увеличение |
от х5 до х300000 |
| Ускоряющее напряжение |
от 0,3 кВ до 30 кВ |
| Столик образцов |
эвцентрического типа, X: 125 мм, Y: 100 мм, Z: 5...80 мм, наклон: -10...+90o, поворот: 360o, компьютерный контроль по 5 осям |
| Максимальный размер образца |
диаметром до 200 мм |
| ЭВМ/ОС |
IBM PC/MS Windows XP * |
| Функции |
установки пользователя, автофокус, автоконтраст/яркость, автостигматор, автоматический контроль пушки |
| Система откачки |
высокий вакуум |
высокий вакуум низкий вакуум |
высокий вакуум |
высокий вакуум низкий вакуум |
 |
Серия электронных микроскопов JEOL JSM-6390/JSM-6390LV |
Электронный микроскоп растровый (недорогой)
Электронные микроскопы серии JSM-6390 - это недорогие приборы с разрешением в высоком вакууме до 3 нм. Польностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения делает работу с приборами интуитивно понятной, а программа SmileShot™ гарантирует оптимальные рабочие установки. Низковакуумный режим в модели JSM-6390LV включается одним щелчком мыши, позволяя изучать влажные или непроводящие образцы без напыления. Максимальный размер образцов для этих приборов ограничен 6 дюймами.
Основными особенностями приборов этой серии являются:
- термоэмиссионная пушка с вольфрамовым или LaB6 катодом
- автоматическая настройка для типовых образцов
- подуманный и компактный дизайн
- полностью настраиваемый интерфейс программного обеспечения
- улучшенное получение изображений во вторичных электронах
- супер-коническая объективная линза
- полностью автоматическая вакуумная система
| |
JSM-6390 |
JSM-6390LV |
JSM-6390A |
JSM-6390LA |
| EDS |
опционально |
интегрирован |
| Разрешение (режим высокого вакуума) |
3,0 нм |
| Разрешение (режим низкого вакуума) |
- |
4,0 нм |
- |
4,0 нм |
| Изображение во вторичных электронах |
в компл. поставки |
| Изображение в отраженных электронах |
опционально |
штатно |
опционально |
штатно |
| Увеличение |
от х5 до х300000 |
| Ускоряющее напряжение |
от 0,5 кВ до 30 кВ |
| Столик образцов |
эвцентрического типа, X: 40 мм, Y: 80 мм, Z: 5...48 мм, наклон: -10...+90o, поворот: 360o |
| Максимальный размер образца |
диаметром до 150 мм |
| ЭВМ/ОС |
IBM PC/MS Windows XP * |
| Функции |
установки пользователя, автофокус, автоконтраст/яркость, автостигматор, автоматический контроль пушки |
| Система откачки |
высокий вакуум |
высокий вакуум низкий вакуум |
высокий вакуум |
высокий вакуум низкий вакуум |
* Windows XP зарегистрированная торговая марка Microsoft Co.
|