Просвечивающие электронные микроскопы JEOL

300-киловольтный аналитический электронный микроскоп высокой точности и сверхвысокого разрешения сконструирован таким образом, чтобы одновременно можно было наблюдать изображение на атомарном уровне и прицельно анализировать образец. В данном микроскопе использовано много новых разработок, в том числе компактная электронная пушка на 300 кВ, осветительная система с пятью линзами, С-О линза, т.н. микроактивный гониометр и различные держатели образцов. Использование встроенного ионного насоса обеспечивает чистый и стабильно высокий вакуум.

• Разрешение по точкам: 0,17 нм
• Ускоряющее напряжение: от 100 до 300 кВ
• Увеличение: от х50 до х1 500 000

Просвечивающий электронный микроскоп, оборудованный электронной пушкой высокой яркости с подогревным катодом на полевой эмиссии, обладающим повышенной стабильностью тока эмиссии. Позволяет непосредственно наблюдать детали атомного строения и анализировать отдельные атомные слои. Электронная пушка с подогревным катодом на полевой эмиссии, более всего подходящая для анализа нанообластей, обеспечивает ток зонда 0,5 нА при его диаметре 1 нм и 0,1 нА при 0,4 нм.

• Разрешение в точке: 0,17 нм
• Ускоряющее напряжение: 100, 200, 300 кВ
• Увеличение: от х60 до х1 500 000

Электронная пушка с полевой эмиссией, обеспечивающая электронный пучок с высокой яркостью и когерентностью, играет ключевую роль в получении высокого разрешения и при анализе наноструктур. Прибор JEM-2100F является комплексным ПЭМ, оснащенным развитой системой электронного управления различными функциями.

Основные особенности данного прибора:

• Высокая яркость и стабильность электронной пушки с термополевой эмиссией обеспечивает анализ областей наноразмеров при большом увеличении.
• Диаметр зонда меньше 0.5 нм позволяет уменьшить точку анализа до уровня нанометров.
• Новый высокостабильный столик образцов с боковой загрузкой обеспечивает простой наклон, поворот, нагрев и охлаждение, программируемые установки и др. без механического дрейфа.
• Простое управление позволяет легко интегрировать управление различными устройствами STEM, HAADF, MDS, EDS, EELS, CCD-камерами

Микроскоп электронный JEOL JEМ-2100 LaB6 позволяет не только получать изображения на просвет и картины дифракции, но и включает в себя компьютерную систему контроля, которая может объединять TEM , устройство получения изображений в режиме сканирования (STEM), энергодисперсионный спектрометр (JED-2300 T) и спектрометр энергетических потерь электронов (EELS) в любых комбинациях.

0 Высокое разрешение (0,19 нм при 200 kV на катоде LaB 6 ) достигается благодаря стабильности высокого напряжения и тока пучка, вместе с превосходной системой линз.

Новая структура рамы колонны микроскопа мягко уменьшает эффект вибрации прибора.

Система элементного анализа использует новый детектор ЭДС, который разработан для телесного угла 0,28 стереорад и имеет угол выхода 24,1 градуса, что позволяет получать высокоточный анализ и быстрый сбор данных.

Новый гониометрический столик позволяет позиционирование образца с точностью до нанометров (точное перемещение образца по нанометрической шкале).

Компьютерная система контроля микроскопа обеспечивает подключение по сети других пользователей (компьютеров) и обмен информацией между ними.

Применение особых полюсных наконечников позволяет получать на электронном микроскопе JEOL JEМ-1230 высококонтрастные и качественные изображения как на малых, так и на больших увеличениях. Перемещение обазца осуществляется с помощью манипулятора «трэкбол», а остальные функции прибора управляются с помощью мыши. На каждого пользователя в памяти заводится файл, в который заносится информация о режимах работы, положении образца и данные для автоматического восстановления настроек колонны. Затем каждый пользователь может обратиться к своему персональному файлу для быстрого восстановления настроек колонны, это позволяет превратить прибор в персональный просвечивающий микроскоп.

• Разрешение по точкам: 0,2 нм
• Ускоряющее напряжение: от 40 до 120 кВ
• Увеличение: от х50 до 600 000

Компактный ПЭМ, который пришел на смену популярной модели JEM-1010 и является результатом новейших технических разработок фирмы Jeol. Высокоэффективный и удобный в управлении, электронный микроскоп JEOL JEM-1011 включает в себя самые новые функции. Данная модель особенно интересна для биологов, медиков и биотехнологических исследований. Прибор обеспечивает высокое качество изображения, а небольшой размер микроскопа требует минимальной площади для его установки.

• Разрешение по точкам: до 0,3 нм
• Ускоряющее напряжение: от 40 до 100 кВ
• Увеличение: х50 до 1 000 000