Элементые анализаторы JEOL

Энергодисперсионный рентгено-флюоресцентный спектрометр JSX-3000, с возможностью анализа всех элементов в диапазоне от натрия до урана, обладает неоспоримым преимуществом, по сравнению с предыдущими аналогичными моделями, – полупроводниковый детектор не требует жидкого азота для охлаждения.
Данный прибор отличают высокая чувствительность и скорость измерений, простота использования, большая камера образцов (300 мм) и способность фиксировать различия между поливинилхлоридом.

Прибор предназначен для энергодисперсионного рентгенофлюоресцентного анализа элементного состава (от углерода до урана) твердых, жидких, порошковых проб, а также тонких пленок и любых других образцов. Быстрое и простое измерение толщины тонких пленок без разрушения.

• определяемые элементы – от C до U;
• встроенная система автоматической смены образца (кассета на 16 образцов);
• цифровой пульс-процессор, встроенный в систему ЭДС, увеличивает чувствительность (чувствительность в пять раз выше, чем в предыдущих моделях прибора);
• быстрый, высокоточный анализ, использующий источник рентгеновского излучения 50kV, 3mA (150W);
• программа создания отчетов SmileView;
• Сменные коллиматоры диаметром 1, 2, 4 и 7 мм.

JEOL JSX-3600 (также называемый "Yuki") - настольный ЭДС рентгенофлюоресцентный анализатор (диапазон анализируемых элементов от Na до U), который позволяет анализировать участки образца от 50 мкм диаметром. Как качественный, так и количественный анализ возможен «бесстандартным» методом. Автоматическая смена коллиматоров, ССD камера с функцией «zoom», полностью автоматизированный столик с перемещением образца по трем осям и, как опция, механизм автофокусировки. Оператор может управлять столиком образцов, указывая интересующую область на экране монитора (можно задать множество интересующих вас точек). Прибор может быть использован в различных областях, таких как пищевая промышленность, косметическая, археология, полупроводники, исследование покрытий и многое другое.

Прибор предназначен для энергодисперсионного рентгенофлюоресцентного анализа элементного состава (от углерода до урана) твердых, жидких, порошковых проб, а также тонких пленок и любых других образцов. Быстрое и простое измерение толщины тонких пленок без разрушения.

JEOL JSX-3202EV позволяет определять 5ppm кадмия в пластике. Полный анализ осуществляется нажатием одной кнопки. Автоматическое создание таблицы анализа. JSX-3202EV - настольный ЭДС рентгенофлюоресцентный анализатор (диапазон анализируемых элементов от Na до U), напряжение на рентгеновской трубке - от 5 до 50kV; 4 типа коллиматоров с автоматической сменой; площадь облучения образца составляет примерно 15 мм. Размер камеры образцов 150 мм диаметром и 100 мм высотой.

Высочайшую чувствительность этого прибора гарантирует новейший цифровой импульсный процессор, встроенный в EDS систему. Прибор способен проводить анализ, как макро (14 мм в диаметре), так и микро (300 мкм в диаметре) областей, что, в сочетании с широким спектром дополнительных функций, делает этот анализатор полезным во многих областях исследований.