Уникальная технология пробоподготовки для РЭМ (патент JEOL) - Cross Section Polisher
Устройство для получения полированных срезов
-
получение поперечных срезов образцов под углом 90 градусов к поверхности образца
-
простое получение чистых срезов практически любых материалов и их сочетаний
-
сохранение внутренней структуры образцов
-
благодаря использованию пучка ионов аргона повреждение образца намного меньше, чем при использовании FIB
-
простота в использовании, не требует опыта работы для получения превосходного результата





















