Электронная микроскопия JEOL и другое оборудование

Просвечивающие электронные микроскопы JEOL

Приборы JEOL для микроанализа и анализа поверхности

Атомно-силовые и туннельные микроскопы JEOL

Научное оборудование других производителей

Атомно-силовые и туннельные микроскопы JEOL

JEOL JSPM-5410

Сканирующий зондовый микроскоп

JSPM-5410 - многоцелевой микроскоп для наблюдения и измерения объектов с нанометровыми размерами. Данный прибор позволяет получать качественное изображение топографии и физических свойств поверхности. Разработанный с учетом последних достижений нанотехнологий, JSPM-5410 широко применяется в различных сферах. Микроскоп объединяет современные и традиционные (STO и PID) методы контроля. Это единственный удобный для исследования мягких материалов зондовый микроскоп, который имеет бесконтактный режим в стандартной конфигурации.

Характеристики:

Разрешение: по поверхности - 0,1 нм, вертикальное направление - 0,02 нм, в режимах AFM и STM - атомное разрешение;
Режимы измерений: AFM (NC, AC, контактный режим), STM, спектроскопия;
Диапазон сканирования: ХY - от 0 до 20 мкм (разрешение: еквивалентно 21 биту; 16 бит, 3DAC), Z - от 0 до 3 мкм (разрешение: 22 бита);
Размер образца: до 50 мм х 50 мм х 5 мм;
Предметный столик: бездрейфовый (0,05 нм/с или меньше), перемещение XY ±3 мм, Z 5 мм;
Антивибрационный стол (пневмоподвеска, гелевый демпфер).

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL Япония.

JEOL JSPM-5200

Сканирующий зондовый микроскоп

JSPM-5200 – это простой в управлении многофункциональный высокоразрешающий сканирующий зондовый микроскоп, позволяющий проводить исследования образцов различными методами в различных средах. В его камере образцы можно изучать и в воздушной среде, и в контролируемой атмосфере, и в жидкости, и в вакууме, при температурах от -143° C до +500° C. JSPM-5200 может также проводить серии заданных измерений, включая комбинации сигналов разного типа и быстрые переключения режимов работы. Открытая архитектура данного прибора предоставляет достаточное количество многофункциональных портов и возможность быстрого доступа к зонду. JSPM-5200 может быть переконфигурирован в атомно-силовой микроскоп (АСМ), либо в сканирующий туннельный микроскоп (СТМ) простой сменой «головки». СТМ-режим включает в себя: CITS, I-V, S-V, и I-S. Стандартные режимы АСМ включают контактную микроскопию, микроскопию сил трения, токовое картирование, безконтактную и дискретную контактную микроскопию с детекцией как касания, так и частоты, а также фазовое картирование. Запатентованный бездрейфовый столик обеспечивает крайне высокую стабильность всей системы построения изображений.

Характеристики:

Разрешение: атомное;
Дрейф столика: не более 0,05 нм/с;
Режимы измерений: AFM контактный режим, импульсный режим, STM;
Диапазон сканирования: XY: от 0 до 10 мкм (стандартное устройство сканирования); разрешение: 25 бит (включая офсет); Z: от 0 до 3 мкм (стандартное устройство сканирования); разрешение: 21 бит (при усилении x32);
Определение сил: оптически (лазерный источник света, 4-сегментный фотодетектор);
Туннельный ток: от 30пА до 1мкА;
Атомно-силовой зонд: на стандартных коммерческих кантилеверах;
Сканирующий туннельный зонд: проволока диаметром 0,2-0,3 мм;
Размер образца: XY: до 50 миллиметров квадратных, Z: до 4 миллиметров толщиной;
Грубая постройка столика: XY: ±3 мм, Z: ручная подстройка до 5 мм (включая механизм точного приближения, подстраиваемый в пределах 1,5 мм);
Порты: ввода газа и подачи разряда, вакуумной откачки, азотный холодопровод, 2 дополнительных порта;
Диапазон температур образца: от 130 до 773 К;
Уровень вакуума: не хуже 10^-3 Па;
Виброизоляция: пневмоподвеска, гелевый демпфер.

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL Япония.

JEOL JSPM-4500

Сканирующий зондовый микроскоп

Сверхвысоковакуумный сканирующий зондовый микроскоп (СЗМ) JSPM-4500 предназначен для изучения поверхности с максимальным разрешением. Гибкая конструкция прибора позволяет включать его в качестве дополнительной компоненты имеющейся у заказчика исследовательской установки, а также использовать его в качестве самостоятельного инструмента. Полный комплект прибора включает камеры препарирования, модификации и исследования поверхности. Прибор может дооснащаться вспомогательными камерами пробоподготовки и анализа. JSPM-4500 обеспечивает атомное разрешение в атомно-силовом и туннельном режимах (АСМ и СТМ).

В этом микроскопе достигается, при условии сверхвысокого вакуума (10^-8 Па), разрешение 0,14 нм по горизонтали и по вертикали, что необходимо для наблюдения чистых поверхностей образца. Традиционное наблюдение топографических картин поверхности образца может быть дополнено разнообразным периферическим оборудованием для различных целей, таких как:

Наблюдение процессов впитывания, фазовых переходов при высоких или низких температурах, и изменения состояния тонких пленок;
Сканирующая туннельная микроскопия;
Атомная силовая микроскопия.

Здесь Вы можете посмотреть информацию о приборе на сайте JEOL Япония.

вверх