Атомно-силовые и туннельные микроскопы JEOL

Данная серия микроскопов была создана для использования в режиме сканирующего туннельного микроскопа (STM), или атомного силового микроскопа (AFM). Смена режимов происходит простой сменой «головки» основного микроскопа. Это делается настолько просто, что замену блока может провести любой оператор за очень короткое время.

Основной блок может быть с вакуумной откачкой (поставляется дополнительно), это дает возможность применять различные дополнительные устройства для наблюдения, образцов, например, при нагреве или охлаждении образца, внедрении газа и т.п.

В этом микроскопе достигается, при условии сверхвысокого вакуума (10^-8 Па), разрешение 0,14 нм по горизонтали и по вертикали, что необходимо для наблюдения чистых поверхностей образца. Традиционное наблюдение топографических картин поверхности образца может быть дополнено разнообразным периферическим оборудованием для различных целей, таких как:

1. Наблюдение процессов впитывания, фазовых переходов при высоких или низких температурах, и изменения состояния тонких пленок;
2. Сканирующая туннельная микроскопия;
3. Атомная силовая микроскопия