Компактные высокочувствительные фотоэлектронные спектрометры высокого разрешения разработаны фирмой Jeol, имеющей огромный опыт в фундаментальной технологии и прикладной технологии производства электростатических линз, анализаторов и т.д.
Ионные пушки с низким ускоряющим напряжением и большим током, предназначенные для XPS, позволяют анализировать как атомные слои поверхности различной толщины, так и слои образца размером порядка микрона. Камера наблюдения образца и камера, где образец подвергается травлению, отделены друг от друга вакуумным затвором. Это полностью предотвращает загрязнение в результате распыления и облегчает получение сверхвысокого вакуума.
Данная серия спектрометров удобна в управлении, снабжена программным обеспечение для MS Windows ME/2000/XP, что упрощает измерения и получение данных, и позволяет получать более точную информацию о химической связи.
Версия модели JPS-9010TR позволяет проводить сверхточный анализ самых верхних слоев поверхности образца (глубина проникновения излучения много меньше 1 мкм), за счет уменьшения угла падения рентгеновских лучей.
