Карта сайта
Главная
О компании
Приветствие
Новости
История
Структура бизнеса
Продукты и услуги
Научно-аналитическое оборудование
Электронная микроскопия JEOL и другое оборудование
Просвечивающие электронные микроскопы JEOL
Растровые электронные микроскопы JEOL
Приборы JEOL для микроанализа и анализа поверхности
Элементые анализаторы JEOL
Атомно-силовые и туннельные микроскопы JEOL
Фотоэлектронные спектрометры JEOL
ЯМР-спектрометры JEOL
ЭПР (Электронный парамагнитный резонанс)
Устройства для пробоподготовки
Вспомогательные устройства
Сервисное обслуживание и запчасти
Оптическая микроскопия NIKON
Микроскопы биомедицинские NIKON
Микроскопы NIKON промышленного назначения
Микроскопы поляризационные NIKON
Стереомикроскопы NIKON
Цифровые камеры NIKON для микроскопии
Сервис, запчасти и аксессуары для оборудования NIKON
Системы микроанализа OXFORD INSTRUMENTS
Комплексные системы микроанализа типа OXFORD INCA
Сервисное обслуживание и запчасти
Рентгеновское оборудование RIGAKU
Рентгеновские дифрактометры RIGAKU
Рентгено-флюоресцентный спектрометр
Сервисное обслуживание и запчасти
Аналитическое оборудование HORIBA
Рентгено-флюоресцентный анализатор HORIBA
Рентгеновские аналитические микроскопы HORIBA
Сервисное обслуживание и запчасти
Научное оборудование других производителей
Промышленное оборудование
Модель DENYO DLW-300ESW
Модель DENYO DLW-400ESW
Модель DENYO DCW-450S CV/CC
Модель DAW-500S
Инженерные системы KIP
Пластиковые карты
Контакты
ссылки
вверх
